目前業(yè)界對SiC和GaN等材料的性能及在功率領(lǐng)域應(yīng)用優(yōu)勢分析較多 ,一般會提到芯片成本是硅基產(chǎn)品的五到八倍等結(jié)論,而對于為何會有這樣差距的原因探討得較淺。本文意在提供更多直接的數(shù)據(jù)來幫助大家有更深入的認識,從而全面的分析一種材料技術(shù)的改進難度,以及新材料導(dǎo)入市場所主要考慮的因素。
1、襯底制造環(huán)節(jié)的分析
(1)晶片尺寸:三種材料目前的尺寸基本相當(dāng),即單片襯底的芯片產(chǎn)出相差不大(GaO器件做成垂直器件相對會更小,此處差異忽略不計)。SiC已有8寸單晶襯底、GaN(自支撐)目前有4寸量產(chǎn)產(chǎn)品,6寸樣品剛進入市場,未量產(chǎn)暫時未考慮。
(2)設(shè)備投入(晶體生長爐+坩堝+晶體加工設(shè)備):GaO設(shè)備投入每條產(chǎn)線投入約350萬,SiC設(shè)備投入每條產(chǎn)線550萬,GaN設(shè)備投入每條產(chǎn)線800萬。
(3)生產(chǎn)效率:GaO每月可產(chǎn)出8爐,年產(chǎn)80爐,可產(chǎn)800片,邊角料短期內(nèi)還可切成10mm * 10mm的小片銷售給科研單位研究用,每爐100片,年產(chǎn)8000片小片。SiC每月可產(chǎn)4爐,年產(chǎn)40爐,可產(chǎn)400片,不能按小片銷售,且良率按30%算約為120片。GaN自支撐襯底產(chǎn)量更小。在材料學(xué)領(lǐng)域,一般以2100℃作為晶體生長的分界線,低于此溫度可以使用常規(guī)的設(shè)備,一旦工藝溫度超過該界限,則需使用加熱、保溫等完全不同的材料體系,即完全不同的特殊設(shè)備,價格要比常規(guī)設(shè)備高出數(shù)倍。PVT-SiC
晶體生長溫度高達2400℃,且跟GaN一樣,無法通過可視化窗口觀察生長過程進行控制,因此設(shè)備價格、加工能耗、良品率都較低,導(dǎo)致這兩種襯底材料成本高企不下。而GaO的襯底成本約為SiC的1/3~1/5,具有明顯的成本優(yōu)勢。液相法SiC解決了PVT法不可視良率低、需要高溫、缺陷密度高、只能做N型的問題,實現(xiàn)高良率、低能耗、高品質(zhì)、可生產(chǎn)P型等效果,即低成本、但同時也會極大促進SiC產(chǎn)品的應(yīng)用,可能會對GaO市場推動也帶來一定影響。
關(guān)于液相SiC和無銥GaO這兩種優(yōu)勢技術(shù)來說,需要補充的是:
① 晶體
液相SiC長成的晶體為正六方型,即使達到6寸,也只能切成4寸使用,造成很大的浪費,尺寸越大浪費越多。
無銥GaO晶體是圓柱形,可直接切成同直徑圓盤。
② 成本
預(yù)計當(dāng)技術(shù)成熟時,即良率相同的情況下,碳化硅比氧化鎵的成本至少貴30%,而且尺寸越大,成本差距越明顯,氧化鎵優(yōu)勢越大。 氧化鎵
③ 優(yōu)勢
目前液相SiC技術(shù)尚處在實驗室階段,從理論上看,該技術(shù)生成的SiC晶體質(zhì)量會更高,不僅位錯降一個數(shù)量級,而且因成品率提高(液相SiC天然較氣相SiC成品率高),使得成本差不多相較當(dāng)前的氣相法SiC能降50%。而且與無銥GaO一樣的是,尺寸越大成本降低越明顯。
④ 瓶頸
工藝溫度為1700~1800℃,而此前由于SiC材料在溫度還未達到熔點融化就升華了。日本、國內(nèi)某研究所以及我國某創(chuàng)業(yè)公司的技術(shù)路線基本相同,未來主要區(qū)別在于技術(shù)細節(jié)的把控和對下列問題的解決:
一是生產(chǎn)中爐內(nèi)缺乏可視系統(tǒng),導(dǎo)致成品率無法保證,尤其是籽晶接觸液面缺乏探測手段,籽晶很薄只有1毫米,過淺尚未接觸無法結(jié)晶,過深沒入液面無法生長,需要特殊的控制手段。
二是溶劑,碳在溶劑里面溶解度很低,如果超出就形成碳簇,會圍繞碳簇形成多晶,導(dǎo)致生產(chǎn)失敗,因此工藝上對熱場和流場的要求很高,需要穩(wěn)定和合理的工藝控制技術(shù)。
三是該技術(shù)SiC同樣長不厚,僅幾毫米厚,一般不超過10mm,還要留出3mm以上做下一爐生產(chǎn)的籽晶,因此實際生產(chǎn)效率提高不多,后續(xù)研發(fā)需要解決的關(guān)鍵問題是如何繼續(xù)長厚,而且大規(guī)模生產(chǎn)中還需要開發(fā)自動配料系統(tǒng),持續(xù)穩(wěn)定供應(yīng)合適的溶液。
2、 外延及芯片制造階段的對比
(1)SiC、GaN的外延生長設(shè)備成本就明顯要高出GaO材料數(shù)倍,且因為外延時間較短,thc?tepi,即升溫、降溫的時間要遠遠大于實際外延生長時間,所以幾種材料外延的速度差異并不明顯,而且由于各家技術(shù)有差異,用途不同的外延也有些許差別,此處不做更深入的比較。目前各種材料的外延技術(shù)較為成熟,可以滿足市場的需求。
(2)芯片加工階段,由于GaO、SiC可以使用垂直結(jié)構(gòu),所以同等規(guī)格下,芯片面積較小,為便于比較,暫時忽略這種優(yōu)勢,三種材料在功率芯片加工過程的成本差異不大。綜上,可以看出,GaO器件Z終成本低于SiC、GaN,且性能更好,具有獨特的競爭優(yōu)勢。
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